2025年12月、LP Information株式会社（所在地：東京都中央区）は、「世界ウェーハ検査装置市場の成長予測2025～2031」の調査レポートを発行しました。
レポートでは、製品タイプ別、用途別、主要メーカー別 ウェーハ検査装置 市場の包括的な概要、市場シェア、成長機会を提示しています。
製品別：Patterned Wafer Inspection Equipment、 Unpatterned Wafer Inspection Equipment、 Others
用途別：Electronics、 Commercial、 Others
企業別：Applied Materials、 Hermes Microvision、 KLA-Tencor、 Lasec、 Zeiss Global、 FEI、 Hitachi High-Technologies、 JEOL、 Lam Research、 Nanometrics、 Nikon、 Planar、 Rudolph Technologies、 Tokyo Seimitsu、 Toray Engineering
本レポートでは、ウェーハ検査装置市場を以下の地域別にも分類しています：
アメリカ地域：アメリカ、カナダ、メキシコ、ブラジル
アジア太平洋地域：中国、日本、韓国、東南アジア、インド、オーストラリア
ヨーロッパ地域：ドイツ、フランス、イギリス、イタリア、ロシア
中東・アフリカ地域：エジプト、南アフリカ、イスラエル、トルコ、GCC諸国
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https://www.lpinformation.jp/reports/464233/wafer-inspection-equipment